《先进倒装芯片封装技术》
作者:唐和明,赖逸少,(美)汪正平(C.P. Wong)主编
索书号: TN430.5/026/2017
出版社:化学工业出版社

        本书总结了过去十几年倒装芯片封装技术的发展脉络和最新成果,并对未来的发展趋势做出了展望。内容涵盖倒装芯片的市场与技术趋势、凸点技术、互连技术、下填料工艺与可靠性、导电胶应用、基板技术、芯片封装一体化电路设计、倒装芯片封装的热管理和热机械可靠性问题、倒装芯片焊锡接点的界面反应和电迁移问题等。

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